Aehr 测试系统将参与第 14 届年度纽约峰会

Acceswire
2025.12.03 12:30
portai
我是 PortAI,我可以总结文章信息。

Aehr Test Systems 宣布其总裁兼首席执行官 Gayn Erickson 将于 2025 年 12 月 16 日参加第十四届纽约市峰会。Erickson 将讨论 Aehr 在半导体测试中日益扩大的角色,包括对其老化测试解决方案的需求增加。纽约市峰会设有与公司管理团队的小组会议,仅限于受邀的合格投资者和分析师参加。Aehr Test Systems 提供各种半导体应用的测试解决方案,包括电动汽车、人工智能处理器和数据中心