天準科技：已具備 14nm 及以下先進製程規模化量產檢測能力

3 月 26 日，天準科技宣佈，旗下矽行半導體公司研發的明場納米圖形晶圓缺陷檢測裝備 TB2000 已正式通過廠內驗證，將於 SEMICON 2025 展會天準展台現場正式發佈。這標誌着公司半導體檢測裝備已具備 14nm 及以下先進製程的規模化量產檢測能力。這是繼 TB1500 突破 40nm 節點後，天準天準科技在高端檢測裝備國產化進程中的又一里程碑。