Aehr 測試系統將參與第 14 屆年度紐約峯會

Acceswire
2025.12.03 12:30
portai
我是 PortAI,我可以總結文章信息。

Aehr Test Systems 宣佈其總裁兼首席執行官 Gayn Erickson 將於 2025 年 12 月 16 日參加第十四屆紐約市峯會。Erickson 將討論 Aehr 在半導體測試中日益擴大的角色,包括對其老化測試解決方案的需求增加。紐約市峯會設有與公司管理團隊的小組會議,僅限於受邀的合格投資者和分析師參加。Aehr Test Systems 提供各種半導體應用的測試解決方案,包括電動汽車、人工智能處理器和數據中心