<p>Aehr 测试系统是一家全球半导体测试和烧录设备供应商，将于 2025 年 8 月 26 日至 27 日在芝加哥参加 Jefferies 半导体、IT 硬件与通信技术会议。在此次活动中，总裁兼首席执行官 Gayn Erickson 和首席财务官 Chris Siu 将讨论他们在半导体生产中创新的晶圆级测试和封装件烧录解决方案，强调他们从 Incal Technology 收购的新型高功率封装件可靠性/烧录测试解决方案，旨在针对人工智能半导体市场。免责声明：本新闻简报由公共技术公司（PUBT）使用生成性人工智能创建。尽管 PUBT 努力提供准确和及时的信息，但此 AI 生成的内容仅供参考，不应被解读为财务、投资或法律建议。Aehr 测试系统于 2025 年 8 月 21 日通过 ACCESS Newswire 发布了用于生成本新闻简报的原始内容（参考 ID：1063430），并对此信息的内容承担全部责任。© 版权 2025 - 公共技术公司（PUBT）</p>

Aehr测试系统

半导体 3 倍做多 - Direxion

<p>Aehr Test Systems 将于 2025 年 8 月 26-27 日参加在芝加哥举行的 Jefferies 半导体、IT 硬件与通信技术会议。首席执行官 Gayn Erickson 和首席财务官 Chris Siu 将介绍他们的晶圆级测试和老化解决方案，重点展示从 Incal Technology 收购的新型高功率封装部件可靠性/老化测试解决方案，旨在服务于人工智能半导体市场</p>

<p>Aehr Test Systems, a global supplier of semiconductor test and burn-in equipment, will participate in the Jefferies Semiconductor, IT Hardware &amp; Communications Technology Conference on August 26-27, 2025, in Chicago. At the event, President and CEO Gayn Erickson and CFO Chris Siu will discuss their innovative wafer level test and packaged part burn-in solutions for semiconductor production, emphasizing their new high power packaged part reliability/burn-in test solutions acquired from Incal Technology, which target the artificial intelligence semiconductor market. Disclaimer: This news brief was created by Public Technologies (PUBT) using generative artificial intelligence. While PUBT strives to provide accurate and timely information, this AI-generated content is for informational purposes only and should not be interpreted as financial, investment, or legal advice. Aehr Test Systems published the original content used to generate this news brief via ACCESS Newswire (Ref. ID: 1063430) on August 21, 2025, and is solely responsible for the information contained therein. © Copyright 2025 - Public Technologies (PUBT)</p>
<div class="lb-trans"><p>Aehr 测试系统是一家全球半导体测试和烧录设备供应商，将于 2025 年 8 月 26 日至 27 日在芝加哥参加 Jefferies 半导体、IT 硬件与通信技术会议。在此次活动中，总裁兼首席执行官 Gayn Erickson 和首席财务官 Chris Siu 将讨论他们在半导体生产中创新的晶圆级测试和封装件烧录解决方案，强调他们从 Incal Technology 收购的新型高功率封装件可靠性/烧录测试解决方案，旨在针对人工智能半导体市场。免责声明：本新闻简报由公共技术公司（PUBT）使用生成性人工智能创建。尽管 PUBT 努力提供准确和及时的信息，但此 AI 生成的内容仅供参考，不应被解读为财务、投资或法律建议。Aehr 测试系统于 2025 年 8 月 21 日通过 ACCESS Newswire 发布了用于生成本新闻简报的原始内容（参考 ID：1063430），并对此信息的内容承担全部责任。© 版权 2025 - 公共技术公司（PUBT）</p>
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Aehr 测试系统将参与在芝加哥举办的 Jefferies 半导体、IT 硬件及通信技术会议