Qnity 通过下一代科磊检测能力加速先进节点材料的创新 | Q 股票新闻
我是 LongbridgeAI,我可以总结文章信息。Qnity Electronics 在其新英格兰制造与技术中心安装了一套 KLA Surfscan SP7XP 无图案晶圆缺陷检测系统。这项投资提升了 Qnity 在先进半导体节点的过程控制和材料创新能力,支持了如 Epic 和 Eon 光刻材料的开发,以提高客户的质量和速度
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投资从材料开发到制造的过程控制
马尔堡,马萨诸塞州 --(商业新闻)--Qnity Electronics, Inc.(“Qnity”)(纽约证券交易所代码:Q),作为半导体价值链中的领先技术解决方案提供商,今天宣布安装了一套来自 KLA 的 Surfscan® SP7XP 无图案晶圆缺陷检测系统,作为其在先进半导体材料创新方面持续投资的一部分。该系统增强了 Qnity 开发和制造前沿材料的能力,加深了支持客户技术路线图的过程洞察。

詹姆斯·西尔(左),KLA 的总经理,与 Qnity 的贝斯尼克·库马尼(Besnik Cumani,制造设备经理)和德鲁·钱伯斯(Drew Chambers,光刻技术副总裁兼总经理)在马萨诸塞州马尔堡的 Qnity 新英格兰制造与技术中心的工厂内,庆祝 Surfscan® SP7XP 无图案晶圆缺陷检测系统的安装。该系统支持 Qnity 在先进半导体材料创新方面的持续投资。
“开发突破性材料以支持先进半导体技术需要对每个开发和制造阶段的性能和质量有深入的洞察,” Qnity 半导体技术副总裁朱莉亚·沃尔廷克(Julia Woertink)表示。“通过加强我们对质量的理解和控制,我们可以帮助客户更有信心和速度地进入更先进的节点。”
Surfscan SP7XP 系统安装在 Qnity 位于马萨诸塞州马尔堡的新英格兰制造与技术中心,是该公司支持其全球网络中先进半导体创新的更广泛投资战略的一部分。它扩展了 Qnity 的特征化和过程控制能力生态系统,帮助团队在材料开发和集成中更早识别变异来源。
在先进节点中,即使是小缺陷也会影响设备性能,因此对产品和过程变异的改善理解支持 Qnity 及其客户更快的过程学习和规模化。Qnity 的最新投资支持先进光刻材料的开发和可靠制造,包括用于 ArF 光刻的 Epic®光刻胶系列、用于极紫外(EUV)光刻的 Eon™光刻胶系列,以及支持底层材料。
“Qnity 对 Surfscan SP7XP 系统的投资反映了半导体价值链中对特征化和过程控制日益重视,” KLA 总经理詹姆斯·西尔表示。“过程资格、监控和缺陷特征化是实现先进半导体应用所需质量和可靠性的关键推动因素。”
关于 Qnity Qnity 是半导体价值链中的领先技术提供商,推动人工智能、高性能计算和先进连接。从半导体芯片制造的突破性解决方案,到在复杂电子系统中实现高速传输,我们的高性能材料和集成专业知识使明天的技术成为可能。有关公司、其业务和解决方案的更多信息,请访问 www.qnityelectronics.com。
Qnity™和 Qnity Node Logo 是 Qnity Electronics, Inc.的附属公司商标或注册商标。Surfscan®是 KLA Corporation 的注册商标。
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媒体联系人
阿什莉·布歇尔
ashley.boucher@qnityelectronics.com
来源:Qnity Electronics, Inc.
