<p>Aehr 測試系統是一家全球半導體測試和燒錄設備供應商，將於 2025 年 8 月 26 日至 27 日在芝加哥參加 Jefferies 半導體、IT 硬件與通信技術會議。在此次活動中，總裁兼首席執行官 Gayn Erickson 和首席財務官 Chris Siu 將討論他們在半導體生產中創新的晶圓級測試和封裝件燒錄解決方案，強調他們從 Incal Technology 收購的新型高功率封裝件可靠性/燒錄測試解決方案，旨在針對人工智能半導體市場。免責聲明：本新聞簡報由公共技術公司（PUBT）使用生成性人工智能創建。儘管 PUBT 努力提供準確和及時的信息，但此 AI 生成的內容僅供參考，不應被解讀為財務、投資或法律建議。Aehr 測試系統於 2025 年 8 月 21 日通過 ACCESS Newswire 發佈了用於生成本新聞簡報的原始內容（參考 ID：1063430），並對此信息的內容承擔全部責任。© 版權 2025 - 公共技術公司（PUBT）</p>

Aehr測試系統

半導體 3 倍做多 - Direxion

<p>Aehr Test Systems 將於 2025 年 8 月 26-27 日參加在芝加哥舉行的 Jefferies 半導體、IT 硬件與通信技術會議。首席執行官 Gayn Erickson 和首席財務官 Chris Siu 將介紹他們的晶圓級測試和老化解決方案，重點展示從 Incal Technology 收購的新型高功率封裝部件可靠性/老化測試解決方案，旨在服務於人工智能半導體市場</p>

<p>Aehr Test Systems, a global supplier of semiconductor test and burn-in equipment, will participate in the Jefferies Semiconductor, IT Hardware &amp; Communications Technology Conference on August 26-27, 2025, in Chicago. At the event, President and CEO Gayn Erickson and CFO Chris Siu will discuss their innovative wafer level test and packaged part burn-in solutions for semiconductor production, emphasizing their new high power packaged part reliability/burn-in test solutions acquired from Incal Technology, which target the artificial intelligence semiconductor market. Disclaimer: This news brief was created by Public Technologies (PUBT) using generative artificial intelligence. While PUBT strives to provide accurate and timely information, this AI-generated content is for informational purposes only and should not be interpreted as financial, investment, or legal advice. Aehr Test Systems published the original content used to generate this news brief via ACCESS Newswire (Ref. ID: 1063430) on August 21, 2025, and is solely responsible for the information contained therein. © Copyright 2025 - Public Technologies (PUBT)</p>
<div class="lb-trans"><p>Aehr 測試系統是一家全球半導體測試和燒錄設備供應商，將於 2025 年 8 月 26 日至 27 日在芝加哥參加 Jefferies 半導體、IT 硬件與通信技術會議。在此次活動中，總裁兼首席執行官 Gayn Erickson 和首席財務官 Chris Siu 將討論他們在半導體生產中創新的晶圓級測試和封裝件燒錄解決方案，強調他們從 Incal Technology 收購的新型高功率封裝件可靠性/燒錄測試解決方案，旨在針對人工智能半導體市場。免責聲明：本新聞簡報由公共技術公司（PUBT）使用生成性人工智能創建。儘管 PUBT 努力提供準確和及時的信息，但此 AI 生成的內容僅供參考，不應被解讀為財務、投資或法律建議。Aehr 測試系統於 2025 年 8 月 21 日通過 ACCESS Newswire 發佈了用於生成本新聞簡報的原始內容（參考 ID：1063430），並對此信息的內容承擔全部責任。© 版權 2025 - 公共技術公司（PUBT）</p>
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Aehr 測試系統將參與在芝加哥舉辦的 Jefferies 半導體、IT 硬件及通信技術會議