Qnity 通過下一代科磊檢測能力加速先進節點材料的創新 | Q 股票新聞

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投資從材料開發到製造的過程控制

馬爾堡，馬薩諸塞州 --（商業新聞）--Qnity Electronics, Inc.（“Qnity”）（紐約證券交易所代碼：Q），作為半導體價值鏈中的領先技術解決方案提供商，今天宣佈安裝了一套來自 KLA 的 Surfscan® SP7XP 無圖案晶圓缺陷檢測系統，作為其在先進半導體材料創新方面持續投資的一部分。該系統增強了 Qnity 開發和製造前沿材料的能力，加深了支持客户技術路線圖的過程洞察。

詹姆斯·西爾（左），KLA 的總經理，與 Qnity 的貝斯尼克·庫馬尼（Besnik Cumani，製造設備經理）和德魯·錢伯斯（Drew Chambers，光刻技術副總裁兼總經理）在馬薩諸塞州馬爾堡的 Qnity 新英格蘭製造與技術中心的工廠內，慶祝 Surfscan® SP7XP 無圖案晶圓缺陷檢測系統的安裝。該系統支持 Qnity 在先進半導體材料創新方面的持續投資。

“開發突破性材料以支持先進半導體技術需要對每個開發和製造階段的性能和質量有深入的洞察，” Qnity 半導體技術副總裁朱莉亞·沃爾廷克（Julia Woertink）表示。“通過加強我們對質量的理解和控制，我們可以幫助客户更有信心和速度地進入更先進的節點。”

Surfscan SP7XP 系統安裝在 Qnity 位於馬薩諸塞州馬爾堡的新英格蘭製造與技術中心，是該公司支持其全球網絡中先進半導體創新的更廣泛投資戰略的一部分。它擴展了 Qnity 的特徵化和過程控制能力生態系統，幫助團隊在材料開發和集成中更早識別變異來源。

在先進節點中，即使是小缺陷也會影響設備性能，因此對產品和過程變異的改善理解支持 Qnity 及其客户更快的過程學習和規模化。Qnity 的最新投資支持先進光刻材料的開發和可靠製造，包括用於 ArF 光刻的 Epic®光刻膠系列、用於極紫外（EUV）光刻的 Eon™光刻膠系列，以及支持底層材料。

“Qnity 對 Surfscan SP7XP 系統的投資反映了半導體價值鏈中對特徵化和過程控制日益重視，” KLA 總經理詹姆斯·西爾表示。“過程資格、監控和缺陷特徵化是實現先進半導體應用所需質量和可靠性的關鍵推動因素。”

關於 Qnity Qnity 是半導體價值鏈中的領先技術提供商，推動人工智能、高性能計算和先進連接。從半導體芯片製造的突破性解決方案，到在複雜電子系統中實現高速傳輸，我們的高性能材料和集成專業知識使明天的技術成為可能。有關公司、其業務和解決方案的更多信息，請訪問 www.qnityelectronics.com。

Qnity™和 Qnity Node Logo 是 Qnity Electronics, Inc.的附屬公司商標或註冊商標。Surfscan®是 KLA Corporation 的註冊商標。

在 businesswire.com 查看源版本：https://www.businesswire.com/news/home/20260819307953/en/

媒體聯繫人

阿什莉·布歇爾

ashley.boucher@qnityelectronics.com

來源：Qnity Electronics, Inc.