Aehr測試系統

Aehr Test Systems, Inc. 提供用于測試、燒錄和半導體設備的測試解決方案，覆蓋晶圓級、單顆芯片和封裝級，業務遍及美國、亞洲、歐洲和中東。該公司提供 FOX-XP 和 FOX-NP 系統，這些系統是全晶圓接觸和單顆芯片/模塊的測試和燒錄系統，能夠測試、燒錄和穩定多種設備，包括基于碳化硅（SIC）和氮化鎵（GAN）的功率半導體；用于手機、平板電腦和其他計算設備的 2D 和 3D 傳感器；存儲半導體；處理器；微控制器；系統級芯片；以及用于人工智能的光子學和集成光學設備。它還提供 FOX-CP 系統，這是一種用于邏輯、存儲和光子設備的單晶圓緊湊型測試解決方案；以及 FOX WaferPak 接觸器，這是一種能夠測試高達 300mm 晶圓的全晶圓接觸器，使集成電路制造商能夠在 FOX-P 系統上進行全晶圓的測試、燒錄和穩定