小芯片(Chiplet)和異構集成的一個影響是對測試的影響。小芯片封裝導致測試時間更長,測試強度增加。#ASE 正將重點轉向測試,因為他們看到了增加收入和擴大市場份額的機會。#KYEC #Winway #ISC 來源:芯片與晶圓
小芯片(Chiplet)和異構集成的一個影響是對測試的影響。小芯片封裝導致測試時間更長,測試強度增加。#ASE 正將重點轉向測試,因為他們看到了增加收入和擴大市場份額的機會。#KYEC #Winway #ISC 來源:芯片與晶圓