据台湾半导体协会(SEMI)总裁赵宁报道,媒体称半导体测试与量测已成为影响 AI 芯片良率、成本、性能和量产速度的关键因素,使这项 formerly 幕后工作走向前台。现代测试与量测设备不再仅用于捕捉缺陷,而是将实时洞察反馈给设计、制造和封装环节,以加快故障排查速度。系统级测试(SLT)、老化测试和可靠性验证的重要性均有所提升。#Advantest $泰瑞达(TER.US) $应用材料(AMAT.US) $科磊(KLAC.US) $Onto Innovation(ONTO.US) $Nova测量仪器(NVMI.US)
来源:Dan Nystedt

